《Microelectronics Reliability》雜志拒稿后是可以轉投其他期刊的， 但需要注意以下幾點：
一、確認拒稿狀態(tài)：在轉投之前，作者必須確保文章確實已被《Microelectronics Reliability》雜志拒稿。如果尚未收到明確的拒稿通知，建議耐心等待或主動向雜志社詢問審稿進度和結果。
二、修改論文：根據(jù)審稿意見修改論文，確保解決提出的問題，并改進論文的結構、方法、論證等方面。
三、轉刊操作建議
優(yōu)先選擇同出版社期刊?：Elsevier Ltd旗下其他工程技術雜志可能更易接收。?
選擇匹配度更高的期刊：參考JCR分區(qū)、影響因子、收稿方向，避免因“主題不符”再次被拒。
附修改說明?：轉投時建議提交針對前次拒稿意見的改進說明，提升通過率。
四、注意事項
避免一稿多投，保持耐心和信心。
《Microelectronics Reliability》雜志概括
國際標準簡稱：MICROELECTRON RELIAB
創(chuàng)刊時間：1964年
出版商：Elsevier Ltd
出版周期：Monthly
出版語言：English
出版地區(qū)：ENGLAND
ISSN：0026-2714，E-ISSN：1872-941X
收錄數(shù)據(jù)庫：SCIE
學科領域：工程技術-工程：電子與電氣（ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC）
期刊定位：專注于發(fā)表工程：電子與電氣領域的文章，旨在為研究人員提供該領域的最新研究成果和前沿動態(tài)。
《Microelectronics Reliability》雜志審稿周期預計為： 較快,2-4周 約8.3周，年發(fā)文量：約310篇，H-index：80。
《Microelectronics Reliability》雜志數(shù)據(jù)
（1）影響因子
該雜志的影響因子為1.6，在工程：電子與電氣領域具有較高的學術影響力。
（2）分區(qū)情況
中科院分區(qū)：
大類學科：工程技術4區(qū)。
小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣4區(qū)。
JCR分區(qū)：
按JIF指標學科分區(qū)分區(qū)：Q3區(qū); 按JCI指標學科分區(qū)分區(qū)：Q4區(qū);
（3）CiteScore
CiteScore數(shù)值為3.3，（ 小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，分區(qū)為Q2，百分位：60%。小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，分區(qū)為Q2，百分位：50%。)
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