不同雜志的版面費(fèi)收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)存在差異，部分期刊也有可能不收取版面費(fèi)。想查詢《Microelectronics Reliability》雜志的版面費(fèi)，可以按以下步驟操作：

1、使用學(xué)術(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)查詢

Web of Science/Scopus：搜索雜志名稱，查看其信息頁(yè)是否標(biāo)注版面費(fèi)。

DOAJ（開放獲取期刊目錄）：若雜志在列，可查看公開的版面費(fèi)信息。

2、聯(lián)系編輯部或同行

郵件詢問：如果在投稿系統(tǒng)中未找到版面費(fèi)信息，可通過(guò)郵件直接聯(lián)系雜志社，提供雜志名稱和具體問題，通常會(huì)得到準(zhǔn)確答復(fù)。

電話咨詢：在緊急情況下，也可以直接撥打雜志社電話進(jìn)行詢問。

咨詢同領(lǐng)域發(fā)表過(guò)該期刊的學(xué)者，了解實(shí)際收費(fèi)情況。

3、機(jī)構(gòu)或出版社政策

機(jī)構(gòu)協(xié)議：若您隸屬高校或研究所，可通過(guò)圖書館或科研管理部門查詢是否有版面費(fèi)資助。

出版社政策：檢查出版社是否對(duì)旗下期刊統(tǒng)一規(guī)定版面費(fèi)。

一、《Microelectronics Reliability》雜志基本信息

中文名稱：微電子可靠性

國(guó)際簡(jiǎn)稱：MICROELECTRON RELIAB

E-ISSN：1872-941X，ISSN：0026-2714

創(chuàng)刊時(shí)間：1964年，由Elsevier Ltd出版

出版周期：Monthly

該雜志專注于工程技術(shù)-工程：電子與電氣（ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC），每篇文章都是該主題的最新、獨(dú)立的摘要，旨在為尚未深入研究該領(lǐng)域的讀者提供易于理解的內(nèi)容。

開放獲取（OA）政策屬于未開放，Gold OA文章占比：14.36%。

二、《Microelectronics Reliability》雜志學(xué)術(shù)影響力與分區(qū)

影響因子：1.6，其JCR分區(qū)：Q3。
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，分區(qū)：Q3，排名：239 / 352，百分位：32.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，分區(qū)：Q4，排名：113 / 140，百分位：19.6%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，分區(qū)：Q3，排名：131 / 179，百分位：27.1%；
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，分區(qū)：Q4，排名：272 / 354，百分位：23.31%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY，收錄子集：SCIE，分區(qū)：Q4，排名：114 / 140，百分位：18.93%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，分區(qū)：Q4，排名：140 / 179，百分位：22.07%；

CiteScore：3.3

分區(qū)情況

中科院分區(qū)：

在中科院最新升級(jí)版分區(qū)表中，大類學(xué)科為工程技術(shù)，分區(qū)：4區(qū)，小類學(xué)科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣，分區(qū)：4區(qū)。

其他指標(biāo)

H-index：80，表明期刊具有較高的學(xué)術(shù)影響力。

年發(fā)文量：310篇。

隨著工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域的快速發(fā)展，《Microelectronics Reliability》雜志有望繼續(xù)擴(kuò)大其影響力，吸引更多高質(zhì)量的研究文章，為讀者提供更全面的學(xué)術(shù)資源。

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