《Microelectronics Reliability》國際標準刊號?ISSN：0026-2714，電子期刊的國際標準刊號：1872-941X。

創(chuàng)刊時間：1964年

出版周期：Monthly

出版語言：English

國際簡稱：MICROELECTRON RELIAB

研究方向：工程技術(shù) - 工程：電子與電氣

期刊定位與內(nèi)容：

微電子可靠性(Microelectronics Reliability)是一本由Elsevier Ltd出版的學術(shù)刊物，主要報道工程技術(shù)-工程：電子與電氣相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊，該刊創(chuàng)刊于1964年，出版周期Monthly。

《微電子可靠性》發(fā)表專家撰寫的簡短易懂的評論，重點介紹工程：電子與電氣的最新關(guān)鍵主題。每篇文章都是對該主題的最新、完整的總結(jié)，方便尚未深入研究的人閱讀。

《微電子可靠性》致力于傳播微電子設(shè)備、電路和系統(tǒng)可靠性的最新研究成果和相關(guān)信息，涵蓋材料、工藝和制造、設(shè)計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領(lǐng)域（如設(shè)計、制造、集成、測試和現(xiàn)場操作）相結(jié)合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領(lǐng)域和特定應用領(lǐng)域案例研究的實踐論文。

大多數(shù)被接受的論文將以研究論文的形式發(fā)表，描述重大進展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發(fā)展主題的論文可能會被接受作為評論論文發(fā)表。更初步的緊急通訊和關(guān)于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發(fā)表。所有投稿均需經(jīng)過該領(lǐng)域頂尖專家的同行評審。

出版周期與發(fā)文量：

該雜志出版周期Monthly，每月發(fā)布一期。近年來，該期刊的年發(fā)文量約為310篇。

學術(shù)影響力：

2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級：Q3，2023年發(fā)布的影響因子為1.6，CiteScore指數(shù)3.3，SJR指數(shù)0.394。本刊非開放獲取期刊。

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