《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志拒稿后是可以轉(zhuǎn)投其他期刊的， 但需要注意以下幾點(diǎn)：
一、確認(rèn)拒稿狀態(tài)：在轉(zhuǎn)投之前，作者必須確保文章確實(shí)已被《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志拒稿。如果尚未收到明確的拒稿通知，建議耐心等待或主動(dòng)向雜志社詢問審稿進(jìn)度和結(jié)果。
二、修改論文：根據(jù)審稿意見修改論文，確保解決提出的問題，并改進(jìn)論文的結(jié)構(gòu)、方法、論證等方面。
三、轉(zhuǎn)刊操作建議
優(yōu)先選擇同出版社期刊?：Springer US旗下其他工程技術(shù)雜志可能更易接收。?
選擇匹配度更高的期刊：參考JCR分區(qū)、影響因子、收稿方向，避免因“主題不符”再次被拒。
附修改說明?：轉(zhuǎn)投時(shí)建議提交針對(duì)前次拒稿意見的改進(jìn)說明，提升通過率。
四、注意事項(xiàng)
避免一稿多投，保持耐心和信心。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志概括
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)稱：J ELECTRON TEST
創(chuàng)刊時(shí)間：1990年
出版商：Springer US
出版周期：Bimonthly
出版語言：English
出版地區(qū)：UNITED STATES
ISSN：0923-8174，E-ISSN：1573-0727
收錄數(shù)據(jù)庫(kù)：SCIE
學(xué)科領(lǐng)域：工程：電子與電氣-工程技術(shù)（ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC）
期刊定位：專注于發(fā)表工程：電子與電氣領(lǐng)域的文章，旨在為研究人員提供該領(lǐng)域的最新研究成果和前沿動(dòng)態(tài)。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志審稿周期預(yù)計(jì)為： 較慢,6-12周 ，年發(fā)文量：約43篇，H-index：31。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志數(shù)據(jù)
（1）影響因子
該雜志的影響因子為1.1，在工程：電子與電氣領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力。
（2）分區(qū)情況
中科院分區(qū)：
大類學(xué)科：工程技術(shù)4區(qū)。
小類學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣4區(qū)。
JCR分區(qū)：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)分區(qū)：Q4區(qū); 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)分區(qū)：Q4區(qū);
（3）CiteScore
CiteScore數(shù)值為2，（ 小類學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，分區(qū)為Q3，百分位：37%。)
投稿咨詢聲明：本信息依據(jù)互聯(lián)網(wǎng)公開資料整理，若存在錯(cuò)誤，請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系我們及時(shí)更正。
