《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》國際標準刊號?ISSN：0923-8174，電子期刊的國際標準刊號：1573-0727。
創刊時間：1990年
出版周期：Bimonthly
出版語言：English
國際簡稱：J ELECTRON TEST
研究方向：工程：電子與電氣 - 工程技術
期刊定位與內容：
電子測試理論與應用雜志(Journal Of Electronic Testing-theory And Applications)是一本由Springer US出版的學術刊物，主要報道工程：電子與電氣-工程技術相關領域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊，該刊創刊于1990年，出版周期Bimonthly。
《電子測試理論與應用雜志》發表專家撰寫的簡短易懂的評論，重點介紹工程：電子與電氣的最新關鍵主題。每篇文章都是對該主題的最新、完整的總結，方便尚未深入研究的人閱讀。
《電子測試：理論與應用雜志》是傳播電子測試領域研究和應用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應用雜志》上發表的論文經過同行評審，以確保原創性、及時性和相關性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業人員。雖然它強調發表珍貴的未發表材料，但需要更廣泛曝光的優秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發表。 《電子測試：理論與應用雜志》還尋求清晰的調查和評論文章，以促進對最新技術的更好理解。
《電子測試：理論與應用雜志》的報道包括但不限于以下主題：
VLSI 設備印刷電路板和電子系統的測試；
模擬和數字電子電路的測試；
微處理器、存儲器和信號處理設備的測試；
故障建模；
測試生成；
故障模擬；
可測試性分析；
可測試性設計；
可測試性綜合；
內置自測試；
測試規范；
容錯；
形式驗證硬件；
驗證模擬；
設計調試；
測試和診斷的人工智能方法和專家系統；
自動測試設備（ATE）；
測試夾具；
電子束測試系統；
測試編程；
測試數據分析；
測試經濟性；
質量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級集成器件測試；
可靠系統測試；
制造良率和良率改進設計；
故障模式分析和工藝改進
出版周期與發文量：
該雜志出版周期Bimonthly。近年來，該期刊的年發文量約為43篇。
學術影響力：
2021-2022年最新版WOS分區等級：Q4，2023年發布的影響因子為1.1，CiteScore指數2，SJR指數0.271。本刊非開放獲取期刊。
Cite Score（2024年最新版）
- CiteScore：2
- SJR：0.271
- SNIP：0.518
| 學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q3 | 495 / 797 |
37%
|
CiteScore：該指標由Elsevier于2016年提出，指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScorer的計算方式是：例如，某期刊2022年CiteScore的計算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發表的文章在2022年獲得的被引次數，除以該期刊2019年、2020年和2021發表并收錄于Scopus中的文章數量總和。
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