首頁 > 期刊 > 自然科學(xué)與工程技術(shù) > 醫(yī)藥衛(wèi)生科技 > 醫(yī)藥衛(wèi)生綜合 > 總裝備部醫(yī)學(xué)學(xué)報 > 風(fēng)洞噪聲對小鼠腦干誘發(fā)電位的影響及其超微結(jié)構(gòu)改變 【正文】
摘要:目的 觀察暴露于風(fēng)洞噪聲后小鼠腦干誘發(fā)電位(auditory brainstem response,ABR)及其超微結(jié)構(gòu)改變。方法 隨機選擇昆明小鼠15只暴露于風(fēng)洞噪聲環(huán)境中,于實驗前和接噪3、7d及脫噪3、7d分別測試各組小鼠ABR閾值,并分別于接噪7d、脫噪7d處死小鼠各兩只,取其耳蝸標(biāo)本行掃描電鏡、透射電鏡檢查。結(jié)果 實驗前小鼠ABR閾值(18.6±6.15)dB SPL,暴露于風(fēng)洞噪聲3、7d時其ABR閾值均比實驗前增高,分別為(35.00±6.92)、(44.46±8.85)dB SPL,差異具有統(tǒng)計學(xué)意義(t=-9.69、t=-13.13,P<0.05);在脫噪3、7d后小鼠ABR閾值均有不同程度恢復(fù),分別為(37.22±9.27)、(23.75±6.63)dB SPL,與實驗前比較仍未恢復(fù)達(dá)正常水平(t=-8.699、t=-2.88,P<0.05)。掃描電鏡顯示,接噪7d時小鼠耳蝸內(nèi)外毛細(xì)胞局限性片狀缺失;脫噪7d時較前有所恢復(fù),表現(xiàn)為耳蝸內(nèi)外毛細(xì)胞局限性點狀缺失。透射電鏡觀察小鼠接噪7d時耳蝸內(nèi)外毛細(xì)胞胞核內(nèi)空泡形成,細(xì)胞線粒體減少;脫噪7d后其毛細(xì)胞內(nèi)空泡逐漸減少。結(jié)論 風(fēng)洞噪聲能造成小鼠ABR聽閾及耳蝸形態(tài)學(xué)改變:接噪7d后損傷最重,脫噪7d較前有所恢復(fù)。ABR聽閾改變與掃描電鏡、透射電鏡結(jié)果相符。
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主管單位:總裝后勤部衛(wèi)生局;主辦單位:解放軍第306醫(yī)院