摘要：采用一種電化學阻抗譜(EIS)的解析方法,原位研究低溫對7A04鋁合金在慢應變速率拉伸過程(SSRT)中裂紋萌生與擴展規(guī)律的影響。利用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察斷口形貌,并通過Kramers-Kronig轉換驗證EIS實驗數(shù)據(jù)的可靠性。結果表明,裂紋的萌生和擴展過程大致可分為氧化膜溶解、裂紋萌生、動態(tài)平衡、裂紋明顯擴展四個階段;溫度的降低會改變斷裂方式,表現(xiàn)為從混合斷裂向脆性穿晶斷裂發(fā)展;由常溫向低溫的變化可以有效抑制鋁合金在SSRT過程中的裂紋萌生和擴展,具體表現(xiàn)為溫度越低對裂紋萌生和擴展的抑制效果越不明顯,其中-5℃時抑制效果最強。